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產(chǎn)品分類北京導(dǎo)電類型鑒別儀采用整流法(也稱三探針?lè)ǎ┖蜏夭罘ǎㄒ卜Q冷熱探筆法來(lái)判斷單晶(或多晶)硅的導(dǎo)電類型(N型或P型),用N型和P型顯示屏直接顯示單晶(或多晶)導(dǎo)電類型。 該儀器特別采用工控指示開(kāi)關(guān),顯示清晰、經(jīng)久耐用;可隨機(jī)調(diào)零,溫差法帶有溫控表。具有測(cè)量范圍寬、體積小、重量輕、性能穩(wěn)定、測(cè)試簡(jiǎn)便、準(zhǔn)確可靠等優(yōu)點(diǎn)。
北京雙電測(cè)四探針測(cè)試儀 RTS-9型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀采用了四探針雙電測(cè)組合(亦稱雙位組合)測(cè)量新技術(shù),將范德堡測(cè)量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換,在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測(cè)量,能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。因而每次測(cè)量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。
北京單晶硅物理測(cè)試儀運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。 儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析。
北京數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。 儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析。
北京PR信號(hào)隔離器mA, DC 量程 / min. span -1...25 mA / 16 mA V, DC 量程 / min. span -20 mV...12V / 0.8 V 輸出: mA, 信號(hào)范圍 / min. span 0...20 mA / 16 mA V, 信號(hào)范圍 / min. span 0...10 VDC / 0.8 VDC